PN-EN IEC 62496-2-5:2023-08 - wersja angielska
Bez VAT:
181,20 PLN
Z VAT:
222,88 PLN
Płytki obwodów optycznych -- Podstawowe procedury badań i pomiarów -- Część 2-5: Badanie elastyczności giętkich obwodów optoelektrycznych
Zakres
Niniejsza część IEC 62496-2 definiuje metodę badania elastyczności giętkich obwodów optyczno-elektrycznych za pomocą przyrządu MIT do badania wytrzymałości na zginanie i przedstawia wytyczne dotyczące metody badań przeciążeniowych pozwalających z góry określić minimalne promienie mechanicznego zgięcia, poniżej których giętkie obwody optyczno-elektryczne mogą ulec uszkodzeniu na skutek wywołanego w sposób zamierzony odkształcenia spowodowanego ich przeginaniem. Do badań elastyczności giętkich obwodów optyczno-elektrycznych zamiast gotowych produktów używane są próbki badawcze o takiej samej strukturze warstwowej jak gotowe produkty.
