PN-EN IEC 61788-27:2026-04 - wersja angielska

W niniejszej części IEC 61788 określono metodę badania pomiaru skoku skręcenia nadprzewodników kompozytowych Nb-Ti/Cu i Nb-Sn/Cu metodą nieskręcania.
Metodę badania stosuje się do kompozytowych przewodów nadprzewodzących Nb-Ti/Cu i Nb-Sn/Cu o strukturze monolitycznej, które mają przekrój okrągły o średnicy od 0,2 mm do 2 mm lub przekrój prostokątny, to jest o powierzchni równoważnej okrągłym przewodom o przekroju poprzecznym. Przewody te posiadają włókna o średnicy w zakresie od 6 µm do 200 µm, skoku skrętu od 5 mm i 50 mm i osnowę z miedzi lub stopu miedzi. W niniejszym dokumencie
wykorzystano kwas azotowy do usunięcia matrycy (miedzi lub stopu miedzi), dzięki czemu powierzchnia kompozytowego przewodu nadprzewodzącego może zostać pokryta materiałem rozpuszczalnym w kwasie azotowym. Chociaż niepewność może wzrosnąć, metoda może być stosowana do kompozytowych przewodów nadprzewodzących Nb-Ti/Cu lub Nb-Sn/Cu, gdy parametry pola przekroju poprzecznego, średnicy włókna i skoku skrętu wykraczają poza graniczne wartości. Oczekuje się, że metoda badawcza określona w niniejszym dokumencie będzie miała zastosowanie do innych typów kompozytowych przewodów nadprzewodzących po wprowadzeniu odpowiednich modyfikacji.