PN-EN 62979:2018-03 - wersja angielska
Bez VAT:
100,60 PLN
Z VAT:
123,74 PLN
Moduł fotowoltaiczny -- Dioda bocznikująca -- Test na przebicie cieplne
Zakres
Niniejszy dokument określa metodę pozwalającą na oszacowanie czy dioda bocznikująca zamontowana w module fotowoltaicznym jest podatna na przebicie cieplne lub gdy zapewnione jest jej odpowiednie chłodzenie, zapewnia bezpieczne przejście od polaryzacji w kierunku przewodzenia do polaryzacji w kierunku zaporowym bez nadmiernego nagrzewania się.
Metoda jest szczególnie przydatna w przypadku testowania diod z barierą Schottky’ego, które charakteryzują się wzrostem prądu upływu ze wzrostem napięcia zaporowego w warunkach podwyższonej temperatury co czyni je bardziej podatnymi na przebicie cieplne.
Próbki testowe z diodami ze złączem P/N użytymi jako diody bocznikujące nie wymagają testów na przebicie cieplne opisanych tutaj, gdyż odporność diod ze złączem P/N na przebywanie w stanie polaryzacji zaporowej jest wystarczająco wysoka.
