PN-EN 62496-2:2017-12 - wersja angielska
Bez VAT:
249,60 PLN
Z VAT:
307,01 PLN
Płytki obwodów optycznych -- Podstawowe procedury badań i pomiarów -- Część 2: Wytyczne ogólne do określania warunków pomiarowych dla charakterystyk optycznych płytek obwodów optycznych
Zakres
Niniejsza część IEC 62496 precyzuje metodę określania warunków pomiarów charakterystyk optycznych płytek obwodów optycznych. Metoda ta obejmuje użycie tablic kodu referencyjnego w celu wychwycenia różnych aspektów krytycznych środowiska pomiarowego. Wartości wyekstrahowane z tablic wykorzystywane są do stworzenia kodu identyfikacji pomiaru, który sam z siebie przechwytuje wystarczającą informację o warunkach pomiaru, by zapewnić zgodność uzyskanych niezależnie wyników pomiaru w możliwych do przyjęcia granicach. Zalecane warunki pomiarowe określa się, by zmniejszyć zmienność w uzyskiwanych niezależnie wynikach pomiarów.
