PN-EN 62433-2:2017-08 - wersja angielska

Bez VAT: 380,40  PLN Z VAT: 467,89  PLN
Modelowanie EMC układów scalonych -- Część 2: Modele układów scalonych do behawioralnej symulacji zaburzeń EMI -- Modelowanie emisji przewodzonych (ICEM-CE)

Zakres

Niniejsza część IEC 62433 wyszczególnia makromodele dla układów scalonych do symulowania przewodzonych emisji elektromagnetycznych na płytce obwodu drukowanego. Ten model jest zwykle nazywany Modelem Emisji Układu Scalonego - Emisja Przewodzona (ICEM-CE). Makromodel ICEM-CE może również zostać użyty do modelowania matrycy układu scalonego, bloku funkcjonalnego i bloku Własności Intelektualnej (IP). Makromodel ICEM-CE może zostać użyty do modelowania zarówno cyfrowych jak i analogowych układów scalonych. Zasadniczo emisje przewodzone mają dwa źródła: • emisje przewodzone przez wyprowadzenia zasilania i struktury masy odniesienia; • emisje przewodzone przez wyprowadzenia wejścia/wyjścia (I/O). Makromodel ICEM-CE skierowuje te dwa typy źródeł do jednego podejścia. Niniejsza norma definiuje struktury i komponenty makromodelu do symulacji EMI biorącej pod uwagę wewnętrzne funkcjonowanie układów scalonych. Ta część IEC 62433 ma dwie główne części: • najpierw jest opis elektryczny elementów makromodelu ICEM-CE wraz z określonymi wymaganiami dla informacji. • druga część proponuje uniwersalny format wymiany danych nazywany CEML oparty na XML. Ten format umożliwia kodowanie ICEM-CE w bardziej przydatnej i ogólnej postaci dla symulowania emisji przewodzonych.

* wymagane pola

Bez VAT: 380,40  PLN Z VAT: 467,89  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 62433-2:2017-08 - wersja angielska
Tytuł Modelowanie EMC układów scalonych -- Część 2: Modele układów scalonych do behawioralnej symulacji zaburzeń EMI -- Modelowanie emisji przewodzonych (ICEM-CE)
Data publikacji 30-08-2017
Liczba stron 114
Grupa cenowa XA
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 62433-2:2017 [IDT], IEC 62433-2:2017 [IDT]
Zastępuje PN-EN 62433-2:2010 - wersja angielska
ICS 31.200