PN-EN 62418:2010 - wersja angielska

Bez VAT: 93,50  PLN Z VAT: 115,01  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Test wymuszania ubytków metalizacji

Zakres

W niniejszej normie przedstawiono metodykę testu wymuszania ubytków metalizacji oraz związane z tym kryteria oceny. Test ma zastosowanie do warstw metalizacji zarówno z aluminium jak i z miedzi. Niniejsza norma ma zastosowanie do badań nieuszkadzalności oraz kwalifikacji przyrządów półprzewodnikowych, umożliwia on także budowę fizycznego modelu intensywności uszkodzeń oraz współczynnika przyspieszenia

* wymagane pola

Bez VAT: 93,50  PLN Z VAT: 115,01  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 62418:2010 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Test wymuszania ubytków metalizacji
Data publikacji 22-09-2010
Liczba stron 19
Grupa cenowa K
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 62418:2010 [IDT], IEC 62418:2010 [IDT]
ICS 31.080