Strona główna /
PN-EN 62374-1:2011 - wersja angielska

PN-EN 62374-1:2011 - wersja angielska

Bez VAT: 117,00 PLN Z VAT: 143,91 PLN

Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 1: Badanie zależnego od czasu przebicia dielektryka (TDDB) w warstwach międzymetalicznych

Zakres

Opisano sposób badania, konstrukcję próbek oraz metodę oceny trwałości przy przebiciu dielektryka w funkcji czasu (TDDB) w przypadku warstw międzymetalicznych w przyrządach półprzewodnikowych

* Forma udostępnienia: Plik - 117,00 PLN

Papier - 117,00 PLN

Czytelnia - pakiet (30 minut) - 18,80 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 117,00 PLN Z VAT: 143,91 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Poprawki i Erraty

PN-EN 62374-1:2011/AC:2011E

Informacje dodatkowe

Numer	PN-EN 62374-1:2011 - wersja angielska
Tytuł	Przyrządy półprzewodnikowe -- Część 1: Badanie zależnego od czasu przebicia dielektryka (TDDB) w warstwach międzymetalicznych
Data publikacji	18-04-2011
Liczba stron	18
Grupa cenowa	J
Sektor	SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny	KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza	EN 62374-1:2010 [IDT], IEC 62374-1:2010 [IDT]
Zastępuje	PN-EN 62374:2007 - wersja angielska
ICS	31.080
Elementy dodatkowe	PN-EN 62374-1:2011/AC:2011E