PN-EN 62047-8:2011 - wersja angielska

Bez VAT: 126,50  PLN Z VAT: 155,60  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy mikroelektromechaniczne -- Część 8: Metoda badania na zginanie dla określenia właściwości pomiarowych cienkich warstw

Zakres

Niniejsza Norma Międzynarodowa omawia metodę badania na zginanie dla określenia właściwości pomiarowych cienkich warstw z dużą dokładnością, powtarzalnością, przy umiarkowanym wysiłku związanym z ustawieniem i przygotowaniem próbki porównywalnym z tym przy klasycznym badaniu na zginanie. Niniejsza metoda badania jest uzasadniona dla próbki o grubości od 50 nm do kilku mikrometrów oraz o stosunku długości do grubości próbki większym niż 300. W MEMS lub w mikromaszynach zazwyczaj stosuje się pasek (lub mostek) wiszący pomiędzy dwoma stałymi wspornikam. Znacznie łatwiej jest wykonać takie paski niż zastosować konwencjonalne próby rozciągania. Procedury testowe są łatwe do zautomatyzowania. Niniejsza Norma Międzynarodowa może być wykorzystana do badania jakości produkcji MEMS, ponieważ wydajność badania jest bardzo wysoka w porównaniu do tradycyjnych badań na rozciąganie

* wymagane pola

Bez VAT: 126,50  PLN Z VAT: 155,60  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 62047-8:2011 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy mikroelektromechaniczne -- Część 8: Metoda badania na zginanie dla określenia właściwości pomiarowych cienkich warstw
Data publikacji 26-08-2011
Liczba stron 20
Grupa cenowa K
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 62047-8:2011 [IDT], IEC 62047-8:2011 [IDT]
ICS 31.080.99