PN-EN 62047-3:2006 - wersja angielska

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy mikroelektromechaniczne -- Część 3: Znormalizowana próbka materiału cienkowarstwowego do badań na rozciąganie

Zakres

Określono znormalizowaną próbkę do badań, którą wykorzystuje się, żeby uzyskać gwarantowaną wiarygodność i dokładność systemu badań na rozciąganie w przypadku materiałów cienkowarstwowych o długości i szerokości 1 mm i grubości poniżej 10 mikrometrów. Materiały te są podstawowymi materiałami strukturalnymi dla mikroelektromechaniki, mikromechanizmów i podobnych przyrządów

* wymagane pola

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 62047-3:2006 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy mikroelektromechaniczne -- Część 3: Znormalizowana próbka materiału cienkowarstwowego do badań na rozciąganie
Data publikacji 28-11-2006
Liczba stron 18
Grupa cenowa J
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 62047-3:2006 [IDT], IEC 62047-3:2006 [IDT]
ICS 31.080.99