PN-EN 61788-17:2013-06 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61788-17:2022-01 - wersja angielska

Bez VAT: 206,40  PLN Z VAT: 253,87  PLN
Nadprzewodnictwo -- Część 17: Pomiary charakterystyk elektronicznych -- Lokalna gęstość prądu krytycznego i jej rozkład w wielkopowierzchniowych warstwach nadprzewodnikowych

Zakres

Niniejsza część normy opisuje pomiary lokalnej gęstości prądu krytycznego (Jc) i jej rozkładu w wielko powierzchniowych warstwach nadprzewodników wysokotemperaturowych (HTS) metodą indukcyjną z wykorzystaniem trzeciej harmonicznej napięcia. Najważniejszym czynnikiem wpływającym na dokładność pomiarów jest określenie Jc w temperaturze ciekłego azotu za pomocą kryterium polowego i uzyskania charakterystyk prądowo-napięciowych z jej (Jc) zależności częstotliwościowych. Chociaż możliwy jest pomiar Jc w zewnętrznym stałym polu magnetycznym [15, 16], zakres tej normy jest ograniczony do pomiaru bez zewnętrznych pól magnetycznych. Technika ta w swojej istocie mierzy prąd krytyczny warstwowy, które jest iloczynem Jc i grubości warstwy d. Zakres i rozdzielczość pomiaru Jcd dla warstw HTS jest następujący: - Jcd: od 200 A/m do 32 kA/m (w oparciu o wyniki, bez ograniczeń) - Rozdzielczość pomiaru: 100 A/m (w oparciu o wyniki, bez ograniczeń)

* wymagane pola

Bez VAT: 206,40  PLN Z VAT: 253,87  PLN

Informacje dodatkowe

Aktualna w ocenie zgodności 02-06-2024 - Patrz Komunikat Prezesa PKN
Numer PN-EN 61788-17:2013-06 - wersja angielska
Tytuł Nadprzewodnictwo -- Część 17: Pomiary charakterystyk elektronicznych -- Lokalna gęstość prądu krytycznego i jej rozkład w wielkopowierzchniowych warstwach nadprzewodnikowych
Data publikacji 26-06-2013
Data wycofania 13-01-2022
Liczba stron 54
Grupa cenowa U
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 290, Technik Specjalnych w Elektryce
Wprowadza EN 61788-17:2013 [IDT], IEC 61788-17:2013 [IDT]
ICS 29.050, 17.220.20
Zastąpiona przez PN-EN IEC 61788-17:2022-01 - wersja angielska