PN-EN 61788-17:2013-06 - wersja angielska
Bez VAT:
206,40 PLN
Z VAT:
253,87 PLN
Nadprzewodnictwo -- Część 17: Pomiary charakterystyk elektronicznych -- Lokalna gęstość prądu krytycznego i jej rozkład w wielkopowierzchniowych warstwach nadprzewodnikowych
Zakres
Niniejsza część normy opisuje pomiary lokalnej gęstości prądu krytycznego (Jc) i jej rozkładu w wielko powierzchniowych warstwach nadprzewodników wysokotemperaturowych (HTS) metodą indukcyjną z wykorzystaniem trzeciej harmonicznej napięcia. Najważniejszym czynnikiem wpływającym na dokładność pomiarów jest określenie Jc w temperaturze ciekłego azotu za pomocą kryterium polowego i uzyskania charakterystyk prądowo-napięciowych z jej (Jc) zależności częstotliwościowych. Chociaż możliwy jest pomiar Jc w zewnętrznym stałym polu magnetycznym [15, 16], zakres tej normy jest ograniczony do pomiaru bez zewnętrznych pól magnetycznych. Technika ta w swojej istocie mierzy prąd krytyczny warstwowy, które jest iloczynem Jc i grubości warstwy d. Zakres i rozdzielczość pomiaru Jcd dla warstw HTS jest następujący: - Jcd: od 200 A/m do 32 kA/m (w oparciu o wyniki, bez ograniczeń) - Rozdzielczość pomiaru: 100 A/m (w oparciu o wyniki, bez ograniczeń)