PN-EN 61788-16:2013-06 - wersja angielska

Bez VAT: 164,10  PLN Z VAT: 201,84  PLN
Nadprzewodnictwo -- Część 16: Pomiary charakterystyk elektronicznych -- Rezystancja powierzchniowa nadprzewodników zależna od mocy przy częstotliwościach mikrofalowych

Zakres

Celem tego dokumentu jest przedstawienie standardowej metody pomiaru rezystancji powierzchniowej nadprzewodników zależnej od mocy przy częstotliwościach mikrofalowych metodą rezonatora szafirowego. Mierzona jest zależność Rs od mocy przy częstotliwości rezonansowej. Poniżej podany jest stosowalny zakres pomiarowy rezystancji powierzchniowej dla tej metody: Częstotliwość: f ~ 10 GHz Wejściowa moc mikrofalowa Pin <37 dBm (5 W) Dane rezystancji powierzchniowej przy mierzonej częstotliwości i dla porównania przeskalowane do 10 GHz przy użyciu relacji Rs f2 powinny zostać przedstawione w raporcie

* wymagane pola

Bez VAT: 164,10  PLN Z VAT: 201,84  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 61788-16:2013-06 - wersja angielska
Tytuł Nadprzewodnictwo -- Część 16: Pomiary charakterystyk elektronicznych -- Rezystancja powierzchniowa nadprzewodników zależna od mocy przy częstotliwościach mikrofalowych
Data publikacji 26-06-2013
Liczba stron 40
Grupa cenowa R
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 290, Technik Specjalnych w Elektryce
Wprowadza EN 61788-16:2013 [IDT], IEC 61788-16:2013 [IDT]
ICS 29.050, 17.220.20