PN-EN 61788-16:2013-06 - wersja angielska
Bez VAT:
164,10 PLN
Z VAT:
201,84 PLN
Nadprzewodnictwo -- Część 16: Pomiary charakterystyk elektronicznych -- Rezystancja powierzchniowa nadprzewodników zależna od mocy przy częstotliwościach mikrofalowych
Zakres
Celem tego dokumentu jest przedstawienie standardowej metody pomiaru rezystancji powierzchniowej nadprzewodników zależnej od mocy przy częstotliwościach mikrofalowych metodą rezonatora szafirowego. Mierzona jest zależność Rs od mocy przy częstotliwości rezonansowej. Poniżej podany jest stosowalny zakres pomiarowy rezystancji powierzchniowej dla tej metody: Częstotliwość: f ~ 10 GHz Wejściowa moc mikrofalowa Pin <37 dBm (5 W) Dane rezystancji powierzchniowej przy mierzonej częstotliwości i dla porównania przeskalowane do 10 GHz przy użyciu relacji Rs f2 powinny zostać przedstawione w raporcie