PN-EN 61788-12:2013-12 - wersja angielska
Bez VAT:
221,80 PLN
Z VAT:
272,81 PLN
Nadprzewodnictwo -- Część 12: Pomiar ilorazu objętości matrycy do nadprzewodnika -- Iloraz objętości miedzi do innych składników w nadprzewodnikowych przewodach kompozytowych Nb3Sn
Zakres
Ta część IEC 61788 opisuje metodę wyznaczania stosunku objętości miedzi do nie-miedzianych składników w przewodach Cu/Nb3Sn. Przedstawiona metoda pomiaru może być stosowana do kompozytowych przewodów nadprzewodnikowych Cu/Nb3Sn o powierzchni przekroju od 0,1 mm2 do 3 mm2 ze stosunkiem objętości miedzi do nie-miedzianych składników równym 0,1 lub więcej. Nie ma zaleceń co do średnicy włókna, jakkolwiek nie dotyczy to tych przewodów nadprzewodnikowych w których włókna, Sn, stop Cu-Sn, materiał barierowy i inne składniki nie-miedziane są rozproszone w matrycy miedzianej czy tych ze stabilizatorem rozproszonym. Ponadto, stosunek objętości miedzi do nie-miedzianych składników może być wyznaczany dla próbek przed albo po procesie formowania cieplnego Nb3Sn. Przewód Cu/Nb3Sn ma strukturę monolityczną i kołowy lub prostokątny przekrój poprzeczny. Pomimo wzrostu niepewności, metoda ta może być stosowana do pomiaru stosunku objętości miedzi do nie-miedzianych składników w przewodach Cu/Nb3Sn w których przekrój i stosunek objętości miedzi do nie-miedzianych składników nie mieści się w podanych zakresach. Ta metoda pomiarowa, po pewnych odpowiednich modyfikacjach, może być zastosowana do innych kompozytowych przewodów nadprzewodnikowych.