PN-EN 61757-2-2:2018-01 - wersja angielska

Niniejsza część IEC 61757 określa szczegółowe wymagania stawiane pomiarowi rozkładu temperatury za pomocą czujnika światłowodowego, nazywanemu także światłowodowym pomiarem rozkładu temperatury (DTS – distributed temperature sensing). DTS obejmuje wykorzystanie efektów rozproszenia Ramana, rozproszenia Brillouina oraz rozproszenia Rayleigha. Pomiary bazujące na rozpraszaniu Ramana oraz rozpraszaniu Rayleigha przeprowadza się w konfiguracji z pojedynczym zakończeniem włókna. Pomiar bazujący na efekcie rozproszenia Brillouina przeprowadza się w konfiguracji z pojedynczym zakończeniem włókna lub w konfiguracji pętlowej. Technikę pomiaru z dwóch stron jednocześnie (np. analiza rozproszenia Brillouina w dziedzinie czasu – BOTDA) określa się tu jako konfigurację pętlową. Ogólne wymagania dla czujników światłowodowych sformułowano w IEC 61757-1:2012.
Niniejsza część IEC 61757 definiuje najistotniejsze parametry eksploatacyjne systemu DTS oraz określa procedury ich określania. Oprócz grupy parametrów eksploatacyjnych zdefiniowano listę parametrów dodatkowych wspierających określenie wymagań pomiarowych i związanych z nimi procedur badawczych. Definicje dodatkowych parametrów sporządzono w celach informacyjnych, powinny one być włączone do zestawu parametrów eksploatacyjnych.
Dokument definiuje ogólny układ testowy, pozwalający na określenie wszystkich parametrów w czasie serii testów. Poszczególne testy zostały opisane w punktach dla każdego parametru pomiarowego. Układ testowy został przedstawiony i opisany w punkcie 4 wraz z listą informacji ogólnych sporządzanych w odniesieniu do konkretnego rozłożonego systemu pomiaru temperatury (DTS) oraz układu testowego używanego do pomiaru parametrów z wykorzystaniem IEC 61757-2-2.
Aneks A zawiera pustą tablicę parametrów eksploatacyjnych, która jest przeznaczona do zapisywania wartości parametrów eksploatacyjnych dla danego systemu DTS i wybranej konfiguracji układu testowego.
Aneks B zawiera wskazówki do opcjonalnego określania wpływu defektów punktowych na parametry pomiarowe.