Zakres
Podano zasady i ogólną metodę badań separowanych zestyków stosowanych jako elementy łączeniowe w obwodach sterowania. Uwzględniono dwa obszary napięć znamionowych: powyżej (i włącznie) 10 V (typowe 24 V), jeżeli zestyki są stosowane do łączenia obciążeń, z możliwością powstawania erozji elektrycznej, takich jak wejścia sterowników programowalnych, i poniżej 10 V (typowe 5 V), z pomijalną erozją elektryczną, takie jak obwody elektroniczne. Określono metodę zapewnienia styczności styków o małej energii przez podanie: używanych definicji; ogólnych zasad metod badań polegających na monitorowaniu i zapisywaniu zachowania się zestyków w każdym cyklu łączeniowym; zasad działania w celu określenia wyposażenia badawczego; zalecanych wielkości probierczych; szczegółowych warunków dotyczących badań zestyków przeznaczonych do zastosowań specjalnych (takich jak łączenie wejść PC); informacji, które należy podać w sprawozdaniu z badań; interpretacji i przedstawiania wyników badań. Podano dziewiętnaście terminów i ich definicji