Informacje dodatkowe
| Numer | PN-EN 60191-6-19:2010 - wersja angielska |
|---|---|
| Tytuł | Normalizacja mechaniczna przyrządów półprzewodnikowych -- Część 6-19: Metody pomiaru odkształceń obudowy w podwyższonej temperaturze i maksymalne dopuszczalne odkształcenia |
| Data publikacji | 29-07-2010 |
| Liczba stron | 16 |
| Grupa cenowa | H |
| Sektor | SEK, Sektor Elektroniki |
| Organ Techniczny | KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych |
| Wprowadza | EN 60191-6-19:2010 [IDT], IEC 60191-6-19:2010 [IDT] |
| ICS | 31.080.01 |

