PN-EN 60068-2-69:2008 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60068-2-69:2017-07 - wersja angielska

Bez VAT: 163,70  PLN Z VAT: 201,35  PLN
Badania środowiskowe -- Część 2-69: Próby -- Próba Te: Badanie lutowności podzespołów elektronicznych do montażu powierzchniowego (SMD) metodą meniskograficzną

Zakres

Podano znormalizowane procedury badań podzespołów elektronicznych do montażu powierzchniowego (SMD) z zastosowaniem stopów lutowniczych zawierających ołów (Pb) i stopów bezołowiowych. Podano znormalizowane procedury określania lutowności metodą meniskograficzną w kąpieli lutowniczej i meniskograficzną metodą kropli lutu. Obydwie metody stosuje się do podzespołów z metalowymi wyprowadzeniami i z metalizowanymi polami lutowniczymi

* wymagane pola

Bez VAT: 163,70  PLN Z VAT: 201,35  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60068-2-69:2008 - wersja angielska
Tytuł Badania środowiskowe -- Część 2-69: Próby -- Próba Te: Badanie lutowności podzespołów elektronicznych do montażu powierzchniowego (SMD) metodą meniskograficzną
Data publikacji 29-01-2008
Data wycofania 25-07-2017
Liczba stron 28
Grupa cenowa N
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 293, Podzespołów RC, Obwodów Drukowanych i Montażu Powierzchniowego
Wprowadza EN 60068-2-69:2007 [IDT], IEC 60068-2-69:2007 [IDT]
Zastępuje PN-EN 60068-2-69:2002 - wersja polska
ICS 19.040
Zastąpiona przez PN-EN 60068-2-69:2017-07 - wersja angielska