Informacje dodatkowe
| Numer | PN-EN 2591-508:2002 - wersja angielska |
|---|---|
| Tytuł | Lotnictwo i kosmonautyka -- Elementy złączy elektrycznych i optycznych -- Metody badań -- Część 508: Pomiar grubości powłok na stykach |
| Data publikacji | 15-02-2003 |
| Data wycofania | 11-05-2007 |
| Liczba stron | 5 |
| Grupa cenowa | C |
| Sektor | SOB, Sektor Obronności i Bezpieczeństwa Powszechnego |
| Organ Techniczny | KT 177, Projektowania i Produkcji Sprzętu Podwójnego Zastosowania |
| Wprowadza | EN 2591-508:2001 [IDT] |
| ICS | 49.060 |
| Zastąpiona przez | PN-EN 2591-508:2007 - wersja polska |

