PN-EN 2591-415:2002 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 2591-415:2007 - wersja polska

Bez VAT: 48,10 PLN Z VAT: 59,16 PLN

Lotnictwo i kosmonautyka -- Elementy złączy elektrycznych i optycznych -- Metody badań -- Część 415: Uszkodzenie próbką testową (styków gniazdowych)

Określono metodę sprawdzenia, czy styki gniazdowe użyte jako elementy złączy nie zostaną uszkodzone przez wkładanie próbki testowej

* Forma udostępnienia: Plik - 48,10 PLN

Papier - 48,10 PLN

Czytelnia - 30 minut - 10,10 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 48,10 PLN Z VAT: 59,16 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Numer	PN-EN 2591-415:2002 - wersja angielska
Tytuł	Lotnictwo i kosmonautyka -- Elementy złączy elektrycznych i optycznych -- Metody badań -- Część 415: Uszkodzenie próbką testową (styków gniazdowych)
Data publikacji	15-02-2003
Data wycofania	10-12-2007
Liczba stron	7
Grupa cenowa	D
Sektor	SOB, Sektor Obronności i Bezpieczeństwa Powszechnego
Organ Techniczny	KT 177, Projektowania i Produkcji Uzbrojenia i Sprzętu Wojskowego
Wprowadza	EN 2591-415:2001 [IDT]
ICS	49.060
Zastąpiona przez	PN-EN 2591-415:2007 - wersja polska