PN-EN 16602-70-05:2015-01 - wersja angielska

W niniejszej normie określono wymagania dotyczące badania, którego celem jest wykrywanie zanieczyszczeń organicznych na powierzchniach przy użyciu metod bezpośrednich i pośrednich za pomocą spektroskopii w podczerwieni.
Niniejsza norma ma zastosowanie do kontroli i wykrywania zanieczyszczeń organicznych na wszystkich załogowych i bezzałogowych statkach kosmicznych, rakietach nośnych, ładunkach użytkowych, konstrukcjach doświadczalnych, naziemnych obiektach do badań w próżni i pomieszczeniach czystych.
Uwzględniono następujące metody badania:
• Bezpośrednie pobieranie próbek zanieczyszczeń
• Pośrednie pobieranie próbek zanieczyszczeń poprzez mycie i wycieranie
Zawarto kilka załączników informatycznych w celu podania wytycznych odnośnie następujących zagadnień:
• Jakościowej i ilościowej interpretacji danych spektralnych
• Kalibracji urządzeń na podczerwień
• Szkolenia operatorów
• Użycia molekularnych płytek wzorcowych
• Zbierania zanieczyszczeń molekularnych
• Badania kontaktowego w celu pomiaru transferu zanieczyszczeń materiałów
• Badania zanurzeniowego w celu pomiaru ekstrahowanych potencjalnych zanieczyszczeń materiałów
• Kryteriów wyboru sprzętu do badania
Niniejsza norma może być dopasowana do określonych charakterystyk i ograniczeń projektu kosmicznego zgodnie z ECSS-S-ST-00.