Wyniki wyszukiwania dla: 'pomiary oscyloskopów'

PN-EN 60512-16-8:2008 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-16-8:2010 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 16-8: Badania mechaniczne styków i końcówek -- Badanie 16h: Skuteczność uchwytu izolacji (połączenia zaciskane)

Wprowadza: EN 60512-16-8:2008 [IDT], IEC 60512-16-8:2008 [IDT]

PN-EN 60512-16-8:2010 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 16-8: Badania mechaniczne styków i zakończeń -- Badanie 16h: Skuteczność uchwytu izolacji (połączenia zaciskane)

Wprowadza: EN 60512-16-8:2008 [IDT], IEC 60512-16-8:2008 [IDT]

PN-EN 60512-16-9:2008 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 16-9: Badania mechaniczne styków i końcówek -- Badanie 16i: Siła utrzymania sprężynującego styku uziemiającego

Wprowadza: EN 60512-16-9:2008 [IDT], IEC 60512-16-9:2008 [IDT]

PN-EN 60512-17-1:2010 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 17-1: Badania utrzymywania kabla -- Badanie 17a: Wytrzymałość odciążki kabla

Wprowadza: EN 60512-17-1:2010 [IDT], IEC 60512-17-1:2010 [IDT]

PN-EN 60512-17-2:2011 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 17-2: Badania utrzymywania kabla -- Badanie 17b: Odporność odciążki kabla na obracanie kabla

Wprowadza: EN 60512-17-2:2011 [IDT], IEC 60512-17-2:2011 [IDT]

PN-EN 60512-17-3:2010 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 17-3: Badania utrzymywania kabla -- Badanie 17c: Odporność odciążki kabla na wyciąganie (rozciąganie) kabla

Wprowadza: EN 60512-17-3:2010 [IDT], IEC 60512-17-3:2010 [IDT]

PN-EN 60512-17-4:2010 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 17-4: Badania utrzymywania kabla -- Badanie 17d: Odporność odciążki kabla na skręcanie kabla

Wprowadza: EN 60512-17-4:2010 [IDT], IEC 60512-17-4:2010 [IDT]

PN-EN 60512-19-1:2010 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 19-1: Badania odporności chemicznej -- Badanie 19a: Odporność uchwytów do zaciskania z izolacją wstępną na działanie płynów

Wprowadza: EN 60512-19-1:2010 [IDT], IEC 60512-19-1:2010 [IDT]

PN-EN 60512-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-1:2004 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 1: Postanowienia ogólne

Wprowadza: EN 60512-1:2001 [IDT], IEC 60512-1:2001 [IDT]

PN-EN 60512-1:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60512-1:2019-03 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 1: Postanowienia ogólne

Wprowadza: EN 60512-1:2001 [IDT], IEC 60512-1:2001 [IDT]

PN-EN 60512-2-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-2-1:2006 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 2-1: Badania ciągłości elektrycznej i rezystancji stykowej -- Badanie 2a: Rezystancja stykowa -- Metoda miliwoltowa

Wprowadza: EN 60512-2-1:2002 [IDT], IEC 60512-2-1:2002 [IDT]

PN-EN 60512-2-1:2006 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 2-1: Badania ciągłości elektrycznej i rezystancji stykowej -- Badanie 2a: Rezystancja stykowa -- Metoda miliwoltowa

Wprowadza: EN 60512-2-1:2002 [IDT], IEC 60512-2-1:2002 [IDT]

PN-EN 60512-2-2:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-2-2:2006 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 2-2: Badania ciągłości elektrycznej i rezystancji stykowej -- Badanie 2b: Rezystancja stykowa -- Określone badanie metodą prądową

Wprowadza: EN 60512-2-2:2003 [IDT], IEC 60512-2-2:2003 [IDT]

PN-EN 60512-2-2:2006 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 2-2: Badania ciągłości elektrycznej i rezystancji stykowej -- Badanie 2b: Rezystancja stykowa -- Metoda prądowa

Wprowadza: EN 60512-2-2:2003 [IDT], IEC 60512-2-2:2003 [IDT]

PN-EN 60512-2-3:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-2-3:2005 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 2-3: Badania ciągłości elektrycznej i rezystancji stykowej -- Badanie 2c: Niestabilność rezystancji stykowej

Wprowadza: EN 60512-2-3:2002 [IDT], IEC 60512-2-3:2002 [IDT]

PN-EN 60512-2-3:2005 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 2-3: Badania ciągłości elektrycznej i rezystancji stykowej -- Badanie 2c: Niestabilność rezystancji stykowej

Wprowadza: EN 60512-2-3:2002 [IDT], IEC 60512-2-3:2002 [IDT]

PN-EN 60512-2-5:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-2-5:2006 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 2-5: Badania ciągłości elektrycznej i rezystancji stykowej -- Badanie 2e: Zakłócenie styczności

Wprowadza: EN 60512-2-5:2003 [IDT], IEC 60512-2-5:2003 [IDT]

PN-EN 60512-2-5:2006 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 2-5: Badania ciągłości elektrycznej i rezystancji stykowej -- Badanie 2e: Zaburzenie styczności

Wprowadza: EN 60512-2-5:2003 [IDT], IEC 60512-2-5:2003 [IDT]

PN-EN 60512-2-6:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-2-6:2005 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 2-6: Badania ciągłości elektrycznej i rezystancji stykowej -- Badanie 2f: Ciągłość elektryczna obudowy (powłoki)

Wprowadza: EN 60512-2-6:2002 [IDT], IEC 60512-2-6:2002 [IDT]

PN-EN 60512-2-6:2005 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 2-6: Badania ciągłości elektrycznej i rezystancji stykowej -- Badanie 2f: Ciągłość elektryczna obudowy (powłoki)

Wprowadza: EN 60512-2-6:2002 [IDT], IEC 60512-2-6:2002 [IDT]

PN-EN 60512-20-1:2010 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 20-1: Badania zagrożenia ogniowego -- Badanie 20a: Palność, płomień igłowy

Wprowadza: EN 60512-20-1:2010 [IDT], IEC 60512-20-1:2010 [IDT]

PN-EN 60512-20-3:2010 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 20-3: Badania zagrożenia ogniowego -- Badanie 20c: Palność, rozżarzony drut

Wprowadza: EN 60512-20-3:2010 [IDT], IEC 60512-20-3:2010 [IDT]

PN-EN 60512-21-1:2010 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 21-1: Badania odporności na częstotliwości radiowe -- Badanie 21a: Rezystancja bocznikująca przy częstotliwościach radiowych

Wprowadza: EN 60512-21-1:2010 [IDT], IEC 60512-21-1:2010 [IDT]

PN-EN 60512-22-1:2010 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 22-1: Badania pojemności -- Badanie 22a: Pojemność

Wprowadza: EN 60512-22-1:2010 [IDT], IEC 60512-22-1:2010 [IDT]

PN-EN 60512-23-2:2010 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 23-2: Badania ekranowania i filtrowania -- Badanie 23b: Charakterystyki tłumienia filtrów integralnych

Wprowadza: EN 60512-23-2:2010 [IDT], IEC 60512-23-2:2010 [IDT]

PN-EN 60512-23-4:2002 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 23-4: Badania ekranowania i filtrowania -- Badanie 23d: Wyszukiwanie uszkodzeń kabli za pomocą reflektometrów

Wprowadza: EN 60512-23-4:2001 [IDT], IEC 60512-23-4:2001 [IDT]

PN-EN 60512-23-7:2005 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 23-7: Badania ekranowania i filtrowania -- Badanie 23g: Skuteczna impedancja przejściowa złączy

Wprowadza: EN 60512-23-7:2005 [IDT], IEC 60512-23-7:2005 [IDT]

PN-EN 60512-24-1:2013-04 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 24-1: Badania zakłóceń magnetycznych -- Badanie 24a: Magnetyzm szczątkowy

Wprowadza: EN 60512-24-1:2012 [IDT], IEC 60512-24-1:2010 [IDT]

PN-EN 60512-25-1:2002 - wersja angielska

Złącza dla sprzętu elektronicznego -- Badania i pomiary -- Część 25-1: Badanie 25a -- Współczynnik przesłuchu

Wprowadza: EN 60512-25-1:2001 [IDT], IEC 60512-25-1:2001 [IDT]

PN-EN 60512-25-2:2002 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-2: Badanie 25b: Tłumienność/tłumienność wtrąceniowa

Wprowadza: EN 60512-25-2:2002 [IDT], IEC 60512-25-2:2002 [IDT]

PN-EN 60512-25-3:2002 - wersja angielska

Złącza dla sprzętu elektronicznego -- Badania i pomiary -- Część 25-3: Badanie 25c -- Pogorszenie czasu narastania

Wprowadza: EN 60512-25-3:2001 [IDT], IEC 60512-25-3:2001 [IDT]

PN-EN 60512-25-4:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-25-4:2006 - wersja polska

Złącza dla sprzętu elektronicznego -- Badania i pomiary -- Część 25-4: Badanie 25d -- Opóźnienie sygnału

Wprowadza: EN 60512-25-4:2001 [IDT], IEC 60512-25-4:2001 [IDT]

PN-EN 60512-25-4:2006 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-4: Badanie 25d: Opóźnienie propagacji

Wprowadza: EN 60512-25-4:2001 [IDT], IEC 60512-25-4:2001 [IDT]

PN-EN 60512-25-5:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-25-5:2007 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-5: Badanie 25e: Tłumienność odbicia

Wprowadza: EN 60512-25-5:2004 [IDT], IEC 60512-25-5:2004 [IDT]

PN-EN 60512-25-5:2007 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-5: Badanie 25e: Straty odbicia

Wprowadza: EN 60512-25-5:2004 [IDT], IEC 60512-25-5:2004 [IDT]

PN-EN 60512-25-6:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-25-6:2007 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-6: Badanie 25f: Wzorcowy obraz oscyloskopowy jakości i fluktuacji sygnału cyfrowego

Wprowadza: EN 60512-25-6:2004 [IDT], IEC 60512-25-6:2004 [IDT]

PN-EN 60512-25-6:2007 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-6: Badanie 25f: Diagram oko i niestabilność

Wprowadza: EN 60512-25-6:2004 [IDT], IEC 60512-25-6:2004 [IDT]

PN-EN 60512-25-7:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-25-7:2007 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-7: Badanie 25g: Impedancja, współczynnik odbicia i współczynnik fali stojącej (WFS)

Wprowadza: EN 60512-25-7:2005 [IDT], IEC 60512-25-7:2004 [IDT]

PN-EN 60512-25-7:2007 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-7: Badanie 25g: Impedancja, współczynnik odbicia i współczynnik fali stojącej (WFS)

Wprowadza: EN 60512-25-7:2005 [IDT], IEC 60512-25-7:2004 [IDT]

PN-EN 60512-25-9:2009 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-9: Badania integralności sygnału -- Badanie 25i: Obcy przesłuch

Wprowadza: EN 60512-25-9:2008 [IDT], IEC 60512-25-9:2008 [IDT]

PN-EN 60512-26-100:2009/A1:2011 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 26-100: Układ do pomiaru, oprzyrządowanie do badania i oprzyrządowanie odniesienia oraz pomiary dotyczące złączy zgodnych z IEC 60603-7 -- Badania od 26a do 26g

Wprowadza: EN 60512-26-100:2008/A1:2011 [IDT], IEC 60512-26-100:2008/AMD1:2011 [IDT]

PN-EN 60512-26-100:2009 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 26-100: Układ do pomiaru, oprzyrządowanie do badania i oprzyrządowanie odniesienia oraz pomiary dotyczące złączy zgodnych z IEC 60603-7 -- Badania od 26a do 26g

Wprowadza: EN 60512-26-100:2008 [IDT], IEC 60512-26-100:2008 [IDT]

PN-EN 60512-27-100:2012 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 27-100: Całościowe badania złączy wg normy wieloczęściowej IEC 60603-7 dla sygnałów do częstotliwości 500 MHz -- Badania od 27a do 27g

Wprowadza: EN 60512-27-100:2012 [IDT], IEC 60512-27-100:2011 [IDT]

PN-EN 60512-28-100:2013-07 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60512-28-100:2020-08 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 28-100: Całościowe badania złączy wg normy wieloczęściowej IEC 60603-7 i IEC 61076-3 dla sygnałów do częstotliwości 1 000 MHz -- Badania od 28a do 28g

Wprowadza: EN 60512-28-100:2013 [IDT], IEC 60512-28-100:2013 [IDT]

PN-EN 60512-29-100:2015-10 - wersja angielska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 29-100: Całościowe badania złączy M12 dla sygnałów do częstotliwości 500 MHz -- Badania od 29a do 29g

Wprowadza: EN 60512-29-100:2015 [IDT], IEC 60512-29-100:2015 [IDT]

PN-EN 60512-3-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-3-1:2005 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 3-1: Badania izolacji -- Badanie 3a: Rezystancja izolacji

Wprowadza: EN 60512-3-1:2002 [IDT], IEC 60512-3-1:2002 [IDT]

PN-EN 60512-3-1:2005 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 3-1: Badania izolacji -- Badanie 3a: Rezystancja izolacji

Wprowadza: EN 60512-3-1:2002 [IDT], IEC 60512-3-1:2002 [IDT]

PN-EN 60512-4-1:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-4-1:2006 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 4-1: Badania wytrzymałości elektrycznej -- Badanie 4a: Próba napięciowa

Wprowadza: EN 60512-4-1:2003 [IDT], IEC 60512-4-1:2003 [IDT]

PN-EN 60512-4-1:2006 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 4-1: Badania wytrzymałości elektrycznej -- Badanie 4a: Próba napięciowa

Wprowadza: EN 60512-4-1:2003 [IDT], IEC 60512-4-1:2003 [IDT]

PN-EN 60512-4-2:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-4-2:2006 - wersja polska

Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 4-2: Badania wytrzymałości elektrycznej -- Badanie 4b: Wyładowania niezupełne

Wprowadza: EN 60512-4-2:2002 [IDT], IEC 60512-4-2:2002 [IDT]

Wyniki wyszukiwania dla 'pomiary oscyloskopów'

PN-EN 60512-16-8:2008 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-16-8:2010 - wersja polska

PN-EN 60512-1:2002 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-1:2004 - wersja polska

PN-EN 60512-1:2004 - wersja polska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60512-1:2019-03 - wersja angielska

PN-EN 60512-2-1:2002 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-2-1:2006 - wersja polska

PN-EN 60512-2-2:2004 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-2-2:2006 - wersja polska

PN-EN 60512-2-3:2002 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-2-3:2005 - wersja polska

PN-EN 60512-2-5:2004 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-2-5:2006 - wersja polska

PN-EN 60512-2-6:2002 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-2-6:2005 - wersja polska

PN-EN 60512-25-4:2002 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-25-4:2006 - wersja polska

PN-EN 60512-25-5:2005 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-25-5:2007 - wersja polska

PN-EN 60512-25-6:2005 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-25-6:2007 - wersja polska

PN-EN 60512-25-7:2005 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-25-7:2007 - wersja polska

PN-EN 60512-28-100:2013-07 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60512-28-100:2020-08 - wersja angielska

PN-EN 60512-3-1:2002 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-3-1:2005 - wersja polska

PN-EN 60512-4-1:2004 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-4-1:2006 - wersja polska

PN-EN 60512-4-2:2002 - wersja angielska Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-4-2:2006 - wersja polska