- Kategoria
-
- Szkolenia (4)
Wyniki wyszukiwania dla 'Test'
-
PN-EN 50288-11-2:2015-11 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 11-2: Wymagania grupowe dotyczące przewodów nieekranowanych testowanych o częstotliwości pracy od 1 MHz do 500 MHz, przeznaczonych do stosowania w obszarach roboczych, sznurach krosowych oraz w centrach danychWprowadza: EN 50288-11-2:2015 [IDT]
-
PN-EN 50288-12-1:2018-01 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 12-1: Wymagania grupowe dotyczące przewodów ekranowanych, testowanych w zakresie częstotliwości od 1 MHz do 2 000 MHz -- Przewody przeznaczone do poziomego i pionowego układania w budynkachWprowadza: EN 50288-12-1:2017 [IDT]
-
PN-EN 50288-2-1:2014-02 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 2-1: Wymagania grupowe dotyczące przewodów ekranowanych, testowanych do częstotliwości 100 MHz -- Przewody przeznaczone do poziomego i pionowego układania w budynkachWprowadza: EN 50288-2-1:2013 [IDT]
-
PN-EN 50288-2-2:2014-02 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 2-2: Wymagania grupowe dotyczące przewodów ekranowanych, testowanych do częstotliwości 100 MHz -- Przewody znajdujące się w bezpośrednim otoczeniu operatora i na sznury krosoweWprowadza: EN 50288-2-2:2013 [IDT]
-
PN-EN 50288-3-1:2014-02 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 3-1: Wymagania grupowe dotyczące przewodów nieekranowanych, testowanych do częstotliwości 100 MHz -- Przewody przeznaczone do poziomego i pionowego układania w budynkachWprowadza: EN 50288-3-1:2013 [IDT]
-
PN-EN 50288-3-2:2014-02 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 3-2: Wymagania grupowe dotyczące przewodów nieekranowanych, testowanych do częstotliwości 100 MHz -- Przewody znajdujące się w bezpośrednim otoczeniu operatora i na sznury krosoweWprowadza: EN 50288-3-2:2013 [IDT]
-
PN-EN 50288-4-1:2014-02 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 4-1: Wymagania grupowe dotyczące przewodów ekranowanych, testowanych do częstotliwości 600 MHz -- Przewody przeznaczone do poziomego i pionowego układania w budynkachWprowadza: EN 50288-4-1:2013 [IDT]
-
PN-EN 50288-4-2:2014-02 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 4-2: Wymagania grupowe dotyczące przewodów ekranowanych, testowanych do częstotliwości 600 MHz -- Przewody znajdujące się w bezpośrednim otoczeniu operatora i na sznury krosoweWprowadza: EN 50288-4-2:2013 [IDT]
-
PN-EN 50288-5-1:2014-02 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 5-1: Wymagania grupowe dotyczące przewodów ekranowanych, testowanych do częstotliwości 250 MHz -- Przewody przeznaczone do poziomego i pionowego układania w budynkachWprowadza: EN 50288-5-1:2013 [IDT]
-
PN-EN 50288-5-2:2014-02 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 5-2: Wymagania grupowe dotyczące przewodów ekranowanych, testowanych do częstotliwości 250 MHz -- Przewody znajdujące się w bezpośrednim otoczeniu operatora i na sznury krosoweWprowadza: EN 50288-5-2:2013 [IDT]
-
PN-EN 50288-6-1:2014-02 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 6-1: Wymagania grupowe dotyczące przewodów nieekranowanych, testowanych do częstotliwości 250 MHz -- Przewody przeznaczone do poziomego i pionowego układania w budynkachWprowadza: EN 50288-6-1:2013 [IDT]
-
PN-EN 50288-6-2:2014-02 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 6-2: Wymagania grupowe dotyczące przewodów nieekranowanych, testowanych do częstotliwości 250 MHz -- Przewody znajdujące się w bezpośrednim otoczeniu operatora i na sznury krosoweWprowadza: EN 50288-6-2:2013 [IDT]
-
PN-EN 50288-8:2012 - wersja angielska
Norma wycofanaPrzewody elektryczne wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 8: Wymagania dotyczące przewodów typu 1 testowanych do częstotliwości 2 MHzWprowadza: EN 50288-8:2012 [IDT]
-
PN-EN 50288-9-1:2013-10 - wersja angielska
Przewody elektryczne wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 9-1: Wymagania grupowe dotyczące przewodów ekranowanych testowanych do częstotliwości 1 000 MHz -- Przewody przeznaczone do poziomego i pionowego układania w budynkachWprowadza: EN 50288-9-1:2012 [IDT]
-
PN-EN 50288-9-2:2015-11 - wersja angielska
Przewody wielożyłowe stosowane w cyfrowej i analogowej technice przesyłu danych -- Część 9-2: Wymagania grupowe dotyczące przewodów ekranowanych testowanych o częstotliwości pracy od 1 MHz do 1 000 MHz, przeznaczonych do stosowania w obszarach roboczych, sznurach krosowych oraz w centrach danychWprowadza: EN 50288-9-2:2015 [IDT]
-
PN-EN 60191-6-16:2007 - wersja angielska
Normalizacja mechaniczna przyrządów półprzewodnikowych -- Część 6-16: Nazewnictwo podstawek do badań i testów typu burn-in przyrządów półprzewodnikowych w obudowach BGA, LGA, FBGA i FLGAWprowadza: EN 60191-6-16:2007 [IDT], IEC 60191-6-16:2007 [IDT]
-
PN-EN 60671:2011 - wersja angielska
Elektrownie jądrowe -- Oprzyrządowanie i systemy kontroli ważne dla bezpieczeństwa -- Testowanie kontrolneWprowadza: EN 60671:2011 [IDT], IEC 60671:2007 [IDT]
-
PN-EN 60834-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60834-1:2004 - wersja polskaUrządzenia telezabezpieczeń elektroenergetycznych -- Wymagania i testy -- Część 1: System poleceńWprowadza: EN 60834-1:1999 [IDT], IEC 60834-1:1999 [IDT]
-
PN-EN 60904-7:2007 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60904-7:2009 - wersja angielskaElementy fotowoltaiczne -- Część 7: Obliczanie błędu wynikającego z niedopasowania spektralnego powstającego w trakcie testowania elementu fotowoltaicznegoWprowadza: EN 60904-7:1998 [IDT], IEC 60904-7:1998 [IDT]
-
PN-EN 61010-031:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61010-031:2005 - wersja polskaWymagania bezpieczeństwa elektrycznych przyrządów pomiarowych, automatyki i urządzeń laboratoryjnych -- Część 031: Wymagania szczegółowe dotyczące sond pomiarowych i testujących przystosowanych do trzymania w ręceWprowadza: EN 61010-031:2002 [IDT], IEC 61010-031:2002 [IDT]
-
PN-EN 61164:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61164:2007 - wersja polskaWzrost nieuszkadzalności -- Testy statystyczne i metody estymacjiWprowadza: EN 61164:2004 [IDT], IEC 61164:2004 [IDT]
-
PN-EN 61164:2007 - wersja polska
Wzrost nieuszkadzalności -- Testy statystyczne i metody estymacjiWprowadza: EN 61164:2004 [IDT], IEC 61164:2004 [IDT]
-
PN-EN 61215-1-2:2017-07 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61215-1-2:2021-11 - wersja angielskaModuły fotowoltaiczne (PV) do zastosowań naziemnych -- Kwalifikacja konstrukcji i aprobata typu -- Część 1-2: Wymagania szczegółowe dotyczące testowania modułów fotowoltaicznych (PV) cienkowarstwowych wytwarzanych na bazie tellurku kadmu (CdTe)Wprowadza: EN 61215-1-2:2017 [IDT], IEC 61215-1-2:2016 [IDT]
-
PN-EN 61215-1-3:2017-08 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61215-1-3:2021-11 - wersja angielskaModuły fotowoltaiczne (PV) do zastosowań naziemnych -- Kwalifikacja konstrukcji i aprobata typu -- Część 1-3: Wymagania szczegółowe dotyczące testowania modułów fotowoltaicznych (PV) cienkowarstwowych wytwarzanych na bazie krzemu amorficznegoWprowadza: EN 61215-1-3:2017 [IDT], IEC 61215-1-3:2016 [IDT]
-
PN-EN 61215-1-4:2017-08 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61215-1-4:2021-11 - wersja angielskaModuły fotowoltaiczne (PV) do zastosowań naziemnych -- Kwalifikacja konstrukcji i aprobata typu -- Część 1-4: Wymagania szczegółowe dotyczące testowania modułów fotowoltaicznych (PV) cienkowarstwowych wytwarzanych na bazie Cu(In,Ga)(S,Se)2Wprowadza: EN 61215-1-4:2017 [IDT], IEC 61215-1-4:2016 [IDT]
-
PN-EN 61300-3-19:2000 - wersja polska
Światłowodowe złącza i elementy bierne -- Podstawowe procedury testów i pomiarów -- Badania i pomiary -- Zależność strat odbiciowych urządzeń jednomodowych od polaryzacjiWprowadza: EN 61300-3-19:1997 [IDT], IEC 61300-3-19:1997 [IDT]
-
PN-EN 61701:2012 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61701:2021-03 - wersja angielskaTestowanie modułów fotowoltaicznych (PV) w korozyjnym środowisku mgły solnejWprowadza: EN 61701:2012 [IDT], IEC 61701:2011 [IDT]
-
PN-EN 61744:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61744:2004 - wersja polskaKalibracja zestawów testowych światłowodowej dyspersji chromatycznejWprowadza: EN 61744:2001 [IDT], IEC 61744:2001 [IDT]
-
PN-EN 61850-10:2006 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61850-10:2007 - wersja polskaSystemy i sieci komunikacyjne w stacjach elektroenergetycznych -- Część 10: Testy zgodnościWprowadza: EN 61850-10:2005 [IDT], IEC 61850-10:2005 [IDT]
-
PN-EN 61850-10:2007 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61850-10:2013-11 - wersja angielskaSystemy i sieci komunikacyjne w stacjach elektroenergetycznych -- Część 10: Testowanie zgodnościWprowadza: EN 61850-10:2005 [IDT], IEC 61850-10:2005 [IDT]
-
PN-EN 61850-10:2013-11 - wersja angielska
Systemy i sieci komunikacyjne automatyzacji przedsiębiorstw elektroenergetycznych -- Część 10: Testowanie zgodnościWprowadza: EN 61850-10:2013 [IDT], IEC 61850-10:2012 [IDT]
-
PN-EN 61926-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61926-1:2004 - wersja polskaAutomatyzacja projektowania -- Część 1: Standardowy język testowy dla wszystkich systemów -- Wspólny skrócony język testowy dla wszystkich systemów (C/ATLAS)Wprowadza: EN 61926-1:2000 [IDT], IEC 61926-1:1999 [IDT]
-
PN-EN 61926-1:2004 - wersja polska
Automatyzacja projektowania -- Część 1: Standardowy język testowy dla wszystkich systemów -- Wspólny skrócony język testowy dla wszystkich systemów (C/ATLAS)Wprowadza: EN 61926-1:2000 [IDT], IEC 61926-1:1999 [IDT]
-
PN-EN 62002-2:2007 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 62002-2:2008 - wersja angielskaMobilne i przenośne urządzenia dostępu radiowego do DVB-T/H -- Część 2: Testy zgodności interfejsuWprowadza: EN 62002-2:2006 [IDT], IEC 62002-2:2005 [IDT]
-
PN-EN 62034:2007 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 62034:2010 - wersja polskaSamoczynne systemy testowania awaryjnego oświetlenia ewakuacyjnego zasilanego z bateriiWprowadza: EN 62034:2006 [IDT], IEC 62034:2006 [IDT]
-
PN-EN 62034:2010 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 62034:2012 - wersja angielskaSystemy automatycznego testowania awaryjnego oświetlenia ewakuacyjnego zasilanego z akumulatorówWprowadza: EN 62034:2006 [IDT], IEC 62034:2006 [IDT]
-
PN-EN 62034:2012 - wersja angielska
Systemy automatycznego testowania awaryjnego oświetlenia ewakuacyjnego zasilanego z akumulatorówWprowadza: EN 62034:2012 [IDT], IEC 62034:2012 [IDT]
-
PN-EN 62373:2006 - wersja angielska
Test stabilności tranzystorów polowych metal-tlenek-półprzewodnik (MOSFET) w funkcji polaryzacji i temperaturyWprowadza: EN 62373:2006 [IDT], IEC 62373:2006 [IDT]
-
PN-EN 62381:2007 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 62381:2012 - wersja angielskaCzynności podczas fabrycznego testu akceptacyjnego (FAT), obiektowego testu akceptacyjnego (SAT) i obiektowego testu integracyjnego (SIT) systemów automatyzacji w przemyśle procesowymWprowadza: EN 62381:2007 [IDT], IEC 62381:2006 [IDT]
-
PN-EN 62381:2012 - wersja angielska
Systemy automatyzacji w przemyśle procesowym -- Fabryczny test akceptacyjny (FAT), obiektowy test akceptacyjny (SAT) i obiektowy test integracyjny (SIT)Wprowadza: EN 62381:2012 [IDT], IEC 62381:2012 [IDT]
-
PN-EN 62418:2010 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Test wymuszania ubytków metalizacjiWprowadza: EN 62418:2010 [IDT], IEC 62418:2010 [IDT]
-
PN-EN 62920:2018-02/A11:2020-07 - wersja angielska
Systemy fotowoltaiczne generujące moc elektryczną -- Wymagania dotyczące kompatybilności elektromagnetycznej (EMC) oraz metody testowania przekształtników mocy z zastosowaniem do systemów fotowoltaicznychWprowadza: EN 62920:2017/A11:2020 [IDT]
-
PN-EN 62920:2018-02/A1:2022-03 - wersja angielska
Systemy fotowoltaiczne generujące moc elektryczną -- Wymagania dotyczące kompatybilności elektromagnetycznej (EMC) oraz metody testowania przekształtników mocy z zastosowaniem do systemów fotowoltaicznychWprowadza: EN 62920:2017/A1:2021 [IDT], IEC 62920:2017/AMD1:2021 [IDT]
-
PN-EN 62920:2018-02 - wersja angielska
Systemy fotowoltaiczne generujące moc elektryczną -- Wymagania dotyczące kompatybilności elektromagnetycznej (EMC) oraz metody testowania przekształtników mocy z zastosowaniem do systemów fotowoltaicznychWprowadza: EN 62920:2017 [IDT], IEC 62920:2017 [IDT]
-
PN-EN 62979:2018-03 - wersja angielska
Moduł fotowoltaiczny -- Dioda bocznikująca -- Test na przebicie cieplneWprowadza: EN 62979:2017 [IDT], IEC 62979:2017 [IDT]
-
PN-EN 867-4:2003 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN ISO 11140-4:2007 - wersja angielskaNiebiologiczne systemy do stosowania w sterylizatorach -- Część 4: Specyfikacja wskaźników alternatywnych do testu Bowiego-Dicka, do wykrywania penetracji pary wodnejWprowadza: EN 867-4:2000 [IDT]
-
PN-EN 867-5:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 867-5:2003 - wersja polskaNiebiologiczne systemy do stosowania w sterylizatorach -- Część 5: Specyfikacja dla systemów wskaźnikowych i przyrządów testowych procesu, przeznaczonych do użytku w badaniach eksploatacyjnych małych sterylizatorów typu B i typu SWprowadza: EN 867-5:2001 [IDT]
-
PN-EN 867-5:2003 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN ISO 11140-6:2023-05 - wersja angielskaNiebiologiczne systemy do stosowania w sterylizatorach -- Część 5: Specyfikacja systemów wskaźnikowych i przyrządów testowych procesu do stosowania w badaniu kwalifikacyjnym dla małych sterylizatorów typu B i typu SWprowadza: EN 867-5:2001 [IDT]
-
PN-EN IEC 60695-11-11:2022-02 - wersja angielska
Badanie zagrożenia ogniowego -- Część 11-11: Płomienie testowe -- Określenie charakterystycznego strumienia ciepła dla zapłonu z bezdotykowego źródła płomieniaWprowadza: EN IEC 60695-11-11:2021 [IDT], IEC 60695-11-11:2021 [IDT]
-
PN-EN IEC 60749-37:2023-07 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe -- Metody badań mechanicznych i klimatycznych -- Część 37: Metoda testu upuszczenia z poziomu płyty z wykorzystaniem akcelerometruWprowadza: EN IEC 60749-37:2022 [IDT], IEC 60749-37:2022 [IDT]